ความไวแสงสูงชิปตัวเดียว X, Y รังสีตรวจจับข้อบกพร่อง DH8000 พร้อมจอ LCD ขนาดใหญ่

ความไวแสงสูงชิปตัวเดียว X, Y รังสีตรวจจับข้อบกพร่อง DH8000 พร้อมจอ LCD ขนาดใหญ่

คุณสมบัติ

1. ชิปตัวเดียว, จอ LCD ขนาดใหญ่, แสงพื้นหลัง

2. ความไวสูง, ช่วงการวัดกว้าง, ประสิทธิภาพที่ดีของการตอบสนองพลังงาน

3. 800 กลุ่มข้อมูลหน่วยความจำของอัตราปริมาณ, eacy เพื่อตรวจสอบ

4. ปริมาณอัตราปลุก, ตรวจจับความผิดปลุก

5. Dose rate และ Cumulate dose สามารถทดสอบได้

6. ปลุกแรงดันไฟฟ้าที่ต่ำกว่า

7. รูปหล่อตัว Al-Mg พื้นที่ใช้งานที่ดีขึ้น

ข้อกำหนดหลัก

เครื่องตรวจจับ: φ30× 25mm, NaI (TL)

ความละเอียด: 1µSv / h≥350CPS

พลังงาน: 35Kev

ช่วงการวัด: อัตราปริมาณ: 0.01 ～ 200.00µSv / h

DH8000A อัตราปริมาณ: 0.01 ～ 1500.00µSv / h (ปกป้องคลาส)

ปริมาณที่สะสม: 0.00µSv ～ 9999.99µSv

ช่วงพลังงาน: 40Kev ～ 3Mev

พลังงานตอบสนอง: 40Kev ～ 3Mev≤± 30% (ตาม 137Cs)

ข้อผิดพลาดพื้นฐานสัมพัทธ์: ≤± 10%

เวลาในการวัด: 1,5,10,20,30 วินาที

ปลุก: 0.25,2.5,10,20,60 (μSv / เอช)

เวลาเคาน์เตอร์: อัตราปริมาณ: µSv / h, µGy / h, µR / ปรับได้

ปริมาณที่สะสม: µSv อัตราการนับ: CPS

การใช้พลังงาน: ≤120mW (ไม่มีแสงไฟ)

น้ำหนัก: 1.80Kg (รวมแบตเตอรี่)